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<セミナー詳細>

セミナーコード:20070905   このセミナーの受付は終了しています

★本セミナーでは、
 ☆初心者や専門外の方でこれから表面・界面分析に関する知識が必要になられる方。
 ☆表面・界面分析を基礎から学びたい方。
 ☆通常業務では直接、表面・界面分析に関わっていないが、業務上、分析技術・材料解析の
  知識が必要とされる方。
 上記のような方を対象に、各種産業において欠くことのできない表面・界面分析技術について
 の基礎事項を始め、目的・状況に合った分析法の選択や分析時における間違いやすいケース
 とその留意点、又、材料解析の活用・応用に至るまで、経験豊富な吉原博士にわかりやすく
 解説頂きます。

〜初心者・専門外の方のための〜
表面・界面分析技術と材料解析

●講 師 アルバック・ファイ(株) 理事
(独)物質・材料研究機構 名誉顧問
工学博士
吉原一紘 氏 
<講師紹介>
1966年、東京大学工学部卒。
1971年、東京大学大学院工学系研究科博士課程修了。
1971年、東京大学工学部助手。
1973年、科学技術庁金属材料技術研究所研究員。
1999年、同研究所極限場研究センター長。
2001年、独立行政法人物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所長。
2002年、同機構材料研究所長。
2003年、同機構理事。
2005年、アルバック・ファイ(株)理事。
現在に至る。
<主要著書>
「入門 表面分析−固体表面を理解するための−」(内田老鶴圃)、
「表面分析入門」(共著)(裳華房)、
「新訂版 表面科学の基礎と応用」(共著)(エヌ・ティー・エス)、
「界面ハンドブック」(共著)(エヌ・ティー・エス)
●日 時 2007年 9月 20日(木) 10:30〜16:30
●会 場 東京・新お茶の水・総評会館・4F・401室  》》 会場地図はこちら 《《
※急ぎのご連絡は(株)技術情報センター(TEL06-6358-0141)まで!!
●受講料 49,980円(1名につき)
※テキスト代、昼食代、喫茶代、消費税分2,380円を含む
●主 催 (株)技術情報センター


−講師からのメッセージ−
  材料の表面や界面は材料全体の性質に大きな影響を与えます。特に材料が薄く、かつ小  さくなると、その傾向はますます顕著になります。その結果、現在では様々な産業分野で  表面や界面の組成や構造を把握することが大変重要になりました。   この講義では、生産現場や研究開発現場で一般的に使用されている表面・界面分析技術  について、その原理や概要を基礎からやさしく解説するとともに、最近の材料解析事例を  紹介いたします。そして、受講者の方々が、表面・界面分析技術の全体を系統的に理解し  て、表面・界面分析を依頼するときや、あるいはこれから表面・界面分析技術を身につけ  ようとするときに役に立つ知識を得ていただくことを目的としています。
T.はじめに  〜表面・界面分析技術が材料解析や材料開発に果たす役割〜
U.表面・界面分析技術の原理と概要  (各種の表面・界面分析技術の原理と概要を基礎から   やさしく解説)  〜目的・状況に合った分析手法の選び方〜
 1.電子と固体の相互作用を利用した表面分析法   (1)電子線の発生方法   (2)走査電子顕微鏡(SEM)   (3)透過型電子顕微鏡(TEM)   (4)電子線プローブマイクロアナリシス(EPMA)   (5)オージェ電子分光法(AES)  2.X線と固体の相互作用を利用した表面分析法   (1)X線の発生方法   (2)X線光電子分光法(XPS)   (3)全反射蛍光X線分析法(TXRF)   (4)X線回折法(XRD)  3.イオンと固体の相互作用を利用した表面分析法   (1)イオンビームの発生方法   (2)イオン散乱分光法(ISS)   (3)二次イオン質量分析法(SIMS)  4.探針の変位を利用した表面分析法   (1)走査トンネル顕微鏡(STM)   (2)原子間力顕微鏡(AFM)  5.基本的なデータ処理   (1)ピーク分離   (2)データ点の平滑化   (3)データ点の微分
V.表面・界面分析データの解釈  (表面・界面分析技術で得られたデータの解釈方法を事例を   挙げて解説)  〜分析時における間違いやすいケースとその留意点も含めて〜
W.表面・界面分析技術を用いた最近の材料解析事例  (主として局所領域分析や薄膜分析がどれだけ進歩しているかを、   オージェ電子分光法とX線光電子分光法を例にとって紹介)  〜材料解析の具体的な活かし方(高分子、セラミックス、金属、   半導体等)、材料解析への応用も含めて〜
X.質疑応答

−名刺交換会−
セミナー終了後、ご希望の方はお残り頂き、参加者間での名刺交換会を実施させて頂きます。

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