T.競争優位を実現する競合機分析の考え方
〜後発有利の原則と開発現場の危機〜
1.後発有利の原理
(1)市場一番乗りとオンリーワンは短寿命
(2)徹底分析ができる「後発有利」の原則
(3)下位の者がチャンピオンに勝る時が真の技術力
2.今、開発現場が危ない!
(1)日本企業は40年前の開発法
(2)真ん中が抜けている(中間層の不在)
(3)IT化で始まったディスカッションの欠落
(4)活性化は設計真審査と競合機分析が最適
3.時代は、フロントローディング開発へ
(1)競合機分析を忘れた日本企業
(2)韓国、中国で日本商品は徹底分析されている!
(3)時代はPDCAからPACD(パックドゥ)ヘ
(4)時代はフロントローディング特許へ
U.システム工学設計法と競合機分析
1.競合機分析の基本は設計書ありき
(1)競合機分析力の基本は設計書作成力にある
(2)設計プロセスに関する競合機分析の位置付け
(3)使用目的の明確化と設計思想
(4)徹底分析された商品の最期
2.従来設計法とシステム工学設計法
(1)従来のスタンドアローン商品設計法は非効率
(2)システム工学設計法で開発費半減、工数半減
(3)復習:システム工学とは
3.設計審査と競合機分析の技は同じ
(1)巧みの設計技:トレードオフで勝負をかける
(2)巧みの設計技:設計審査はここだけやれば良い
(3)巧みの設計技:競合機分析はここだけやれば良い
V.競合機分析の具体的な進め方と製品設計への活かし方
〜競合機分析法のポイントと実習〜
1.競合機分析の6W1H
(1)ここがポイント!競合機分析の方法
(2)競合機分析のフロー
(3)理想的な競合機分析の方法
2.競合機分析の進め方(実習)
(1)実習:先ずはカタログを徹底分析
(2)実習:設計思想から使用目的の明確化を逆分析
(3)発表:分析結果と設計へのフィードバックを発表
(4)解説:先発の競合商品に勝つ!
3.次世代CTスキャナの熾烈な戦い
(1)次世代CTスキャナの開発(GE)
(2)次世代CTスキャナの開発(東芝)
(3)異例のプロジェクト発足(GE)
W.質疑応答
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