【スケジュール概要】
１日目：９月６日(火)
13：20～16：45 本山氏による講演（途中適宜休憩）
２日目：９月７日(水)
10：00～[14：20～14：30頃まで] 本山氏による講演
（途中、12：00～13：00頃、昼食休憩）
[14：20～14：30頃]～15：00 休憩＆パナソニック電工解析センターへ移動
15：00～16：00 電子部品の信頼性評価・故障解析に関する実験実演
16：00～17：00 パナソニック電工解析センターの施設見学（各種試験装置など）
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【受講対象】
・電子部品を利用した機器（装置）開発・設計・技術・研究担当者
・電子機器の品質管理部門の担当者、管理者
・電子部品の評価、調達担当者
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【予備知識】
上記対象者であれば専門知識は特に必要ございません。
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【習得知識】
１．市場でのトラブルの概要が習得できます
２．加速試験の方法や解析法が理解でき、その解析の結果加速係数の算出法が習得できます。
３．ご自分が携わっておられる商品（電子回路部分）の寿命が算出できるようになります。
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【講師の言葉】
電子機器の小型・軽量化に伴い、それに搭載される電子部品も小型化・薄膜化が進んでいます。一方、コストダウン狙いに対応した海外部品の使用に伴い、市場トラブルが増加傾向にあります。このような状況では、電子機器に使用する電子部品の信頼性を見極めることが重要となっています。
そこで本講座では、信頼性の基礎知識から電子部品の故障寿命の予測方法まで受動部品を中心に実際の例を使いながら解説し、寿命予測を実施していくに充分な情報を提供します。
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【１日目＋２日目通しての講演内容】
１．部品を調達する時の課題
１.１ 市場での調達部品の現状
１.２ 信頼性の高い部品を調達する為の考え方
２．電子部品の故障
２.１ 故障物理の基礎
２.２ 故障のメカニズム
３．部品調達時に知っておくべき用語と試験法
３.１ 信頼性用語の定義
３.２ 信頼性特性値の考え方
３.３ 信頼性試験の種類と目的
４．信頼性解析手法とその概要
４.１ 累積の故障確率の求め方（ワイブル解析、累積ハザード関数）
４.２ 故障の分布の求め方
４.３ データ解析による故障率の算出法
４.４ 加速試験データ解析のEXCELによる演習
５．ストレスによる劣化加速理論と予測式
５.１ アレニウスモデルによる温度劣化の加速寿命予測式
５.２ アイリングモデルによる湿度劣化の加速寿命予測式
５.３ コフィン・マンソンモデルによる温度サイクルの加速寿命予測式
６. 電子部品の寿命予測の実際
６.１ 故障寿命に影響するストレス
６.２ 電子部品とストレスの対応
６.３ 部品の劣化現象と劣化の加速式
６.４ 加速試験による寿命の見極め方
６.５ 市場での故障時間算出のEXCELによる演習
７. 市場トラブルの実例
７.１ AL電解コンデンサ
７.２ フィルムコンデンサ
８．パナソニック電工解析センター株式会社における実験実演と施設見学
８.１ 電子部品の信頼性評価・故障解析に関する実験実演
８.２ パナソニック電工解析センターの施設見学（各種試験装置など）
９．質疑応答＜適宜＞
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【パナソニック電工解析センター株式会社とは】
①電気機械器具、精密機械器具、一般機械器具、住宅関連機器、建材商品、電子部品・デバイス、
各種材料、ソフトウェア等の調査、研究、開発、設計、製造、分析、解析、試験、検査、計測の受託
と成果の販売。
②各種工場、ビルディング、その他の施設等の環境、公害、安全および衛生に関する調査、研究、
検査、計測および成果の販売。
③分析、解析、試験、検査、計測に使用する設備および計測機器等の賃貸借、保守・メンテナンス
などを行っている。
旧株式会社松下電工解析センターのことで、ブランド統一戦略により、2008年10月から
パナソニック電工解析センター株式会社へと社名変更した。
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－名刺交換会－
セミナー終了後、ご希望の方はお残り頂き、講師と参加者間での名刺交換会を実施させて頂きます。
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